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日置低電阻測試儀

簡要描述:日置低電阻測試儀RM3542C精度可達(dá)0.015%,最小分辨率可測量0.1μΩ的電阻。在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面,多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。

  • 產(chǎn)品型號:RM3542C
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2026-01-13
  • 訪  問  量:70

詳細(xì)介紹

品牌HIOKI/日本日置產(chǎn)地類別進(jìn)口
類型數(shù)字式電阻測試儀應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

日置低電阻測試儀RM3542C精度可達(dá)0.015%,最小分辨率可測量0.1μΩ的電阻。在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面,多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。

一、日置低電阻測試儀產(chǎn)品特點(diǎn):

升級自動化與品質(zhì),實(shí)現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測

● ΔR(工序?qū)Ρ龋┫轗M3542C-3

● BIN(分選•分級)限RM3542C-3

● 跳線電阻測量支持功能

● 節(jié)拍×再現(xiàn)性

● 低應(yīng)力測量

● 抗干擾性

二、產(chǎn)品優(yōu)勢:

升級自動化與品質(zhì),實(shí)現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測

RM3542C是專為片式電阻器/片式鐵氧體磁珠的量產(chǎn)檢測自動化設(shè)備的直流電阻計(jì)。通過 ΔR對比工序前后的變化率、BIN功能(最多7個等級)即時(shí)判定產(chǎn)品合格與否及等級、跳線電阻測量支持功能加速低電阻分選,實(shí)現(xiàn)更嚴(yán)格的檢測,提高檢測效率。此外,通過低應(yīng)力測量與實(shí)時(shí)監(jiān)控接觸狀態(tài)保障檢測可靠性,以及優(yōu)化量程結(jié)構(gòu)與浮式設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)檢測環(huán)境下的穩(wěn)定測量。

三項(xiàng)新功能,推動檢測升級 跳線電阻測量時(shí)間最、快可縮短76%:跳線電阻測量支持功能

針對跳線電阻(零歐姆電阻)等100 mΩ以下元件的檢測,可跳過耗時(shí)的高精度量程。在典型測試條件下,測量時(shí)間縮短約76%。

示例:檢查100mΩ跳線電阻(零歐姆電阻)

比較器設(shè)置:上限值100 mΩ、下限值50 mΩ

測量儀設(shè)置:測量速度FAST、延遲(從施加時(shí)間開始到測量的時(shí)間):0 ms

日置低電阻測試儀

提高分選•分級工藝的效率:BIN功能(限RM3542C-3)

根據(jù)多項(xiàng)判定基準(zhǔn),將測量結(jié)果劃分為0~6等級。實(shí)現(xiàn)合格與否判定的同時(shí),簡化了量產(chǎn)檢測必需的分級流程。

日置低電阻測試儀

提高檢測可靠性及貼裝工藝檢測判定與傳送處理的速度:ΔR功能(限RM3542C-3)

由兩臺測量儀的測量結(jié)果,自動計(jì)算并比較電阻值變化率(ΔR),再根據(jù)閾值判定產(chǎn)品合格與否。

無需借助外部運(yùn)算,即可在產(chǎn)線內(nèi)完成工序間對比。

日置低電阻測試儀

Proven Foundation:可靠性經(jīng)量產(chǎn)現(xiàn)場考驗(yàn)

靈活的累積時(shí)間設(shè)置與量程優(yōu)化,兼顧生產(chǎn)效率與高精度穩(wěn)定測量。

各量程可獨(dú)立設(shè)置累積時(shí)間,支持從FAST 0.9 ms(最、快速度)到SLOW高精度測量。采用3Ω/300Ω等中間量程,改善S/N并降低測量偏差。

此外,采用浮式設(shè)計(jì),即使在生產(chǎn)線這類強(qiáng)干擾環(huán)境中,也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測量。

日置低電阻測試儀

采用低應(yīng)力測量,防止元件特性發(fā)生變化及受損,實(shí)現(xiàn)高可靠性測量。

可將作為測量應(yīng)力主要誘因的施加電壓限制在5V以下。在H/L端子側(cè)交替施加接觸改善電流,修整電極表面的同時(shí),抑制沖擊電流峰值。

兼顧0201及特性易發(fā)生變化的鐵氧體磁珠的檢測需求。

【操作條件】LOW POWER:ON或施加電壓限制功能:ON狀態(tài)下,接觸改善功能設(shè)為脈沖。

日置低電阻測試儀

接觸改善+接觸狀態(tài)監(jiān)控,大幅降低誤判風(fēng)險(xiǎn),確保高檢測可靠性

通過測量前的接觸改善(17/25/35/50 mA)穩(wěn)定接觸狀態(tài)。檢測過程中,由接觸監(jiān)控功能實(shí)時(shí)監(jiān)控狀態(tài),降低因接觸不良導(dǎo)致的誤判及產(chǎn)線停機(jī)風(fēng)險(xiǎn)。

日置低電阻測試儀

為更穩(wěn)定的系統(tǒng)運(yùn)行與嚴(yán)苛檢測保駕護(hù)航

通過預(yù)設(shè)功能可一鍵調(diào)用測量條件,減少換產(chǎn)失誤,保障產(chǎn)線穩(wěn)定啟動。搭載工位錯位預(yù)防功能,可避免兩臺校正設(shè)備在校正或維護(hù)后的設(shè)備連接錯誤。此外,設(shè)備支持90天精度保障*,能維持更高測量精度,滿足超窄公差元件的檢測需求。換產(chǎn)再現(xiàn)性、產(chǎn)線穩(wěn)定性、嚴(yán)苛判定力三者兼得。

*限RM3542C-3

日置低電阻測試儀

日置授權(quán)代理商:蘇州威銳科電子有限公司

我們的優(yōu)勢:日置、和普、是德、泰克、固緯、海思、安柏、同惠、艾德克斯、普源等

規(guī)格參數(shù):

基本參數(shù) 精度保證時(shí)間1年(僅RM3542C-3有90天精度)

電阻測量量程

Low Power OFF時(shí)】100   mΩ(最、大120.0000 mΩ,分辨率0.1μΩ)*100 MΩ量程(最、大120.0000   MΩ,分辨率100Ω),16量程步進(jìn)
  *10 m
Ω(最、大12.00000 mΩ,分辨率0.01μΩ)追加量程(RM3542C-3
 
Low Power ON時(shí)】1000mΩ(最、大1200.000mΩ,分辨率1μΩ)~1000Ω量程(最、大1200.000Ω,分辨率1mΩ),6量程步進(jìn)

顯示

單色圖形LCD 240×64dot,白色LED背光

測量精度

100mΩ量程, Low   Power OFF, SLOW時(shí)】±0.015% rdg.±0.002% f.s.
 
1000Ω量程, Low Power OFF, SLOW時(shí)】±0.006% rdg.±0.001% f.s. (最、高精度)
  90
天測量精度(僅、限RM3542C-3)
 
100mΩ量程, Low Power OFF, SLOW時(shí)]】±0.012% rdg.±0.002%   f.s.
 
1000Ω量程, Low Power OFF, SLOW時(shí)】±0.005 % rdg.±0.001% f.s. (最、高精度)

測量電流

100mΩ量程時(shí)】DC   100mA?100MΩ量程時(shí)】DC 100nA

開路端子電壓

DC 20 Vmax.施加電壓限制功能ON時(shí):DC 5 Vmax.

采樣率

FAST, MED, SLOW

測量時(shí)間(Low Power OFF時(shí))

100Ω, 300Ω, 1000Ω量程時(shí)】FAST 0.9 ms, MED 3.6 ms, SLOW   17 ms (最短測量時(shí)間)

累積時(shí)間

檢測電壓的讀取時(shí)間:0.1 ms100.0   ms,1?5 PLC: 50Hz時(shí), 1?6 PLC: 60Hz時(shí)(PLC:供給電源的1個周期)

其他功能

比較器(設(shè)置值與測量值的比較判定)、BIN測量(僅、限RM3542C-3)、低功率電阻測量、延遲設(shè)置、偏移電壓補(bǔ)償功能(OVC)、累積時(shí)間設(shè)置、平均功能(RM3542C-3)、測量異常檢測、探頭短路檢測、接觸改善、電流模式設(shè)置、工位錯位預(yù)防、縮放、重試、施加電壓限制、跳線電阻測量支持、預(yù)設(shè)、ΔRRM3542C-3)、存儲功能、統(tǒng)計(jì)運(yùn)算功能、設(shè)置監(jiān)控、觸發(fā)源設(shè)置、抽樣打印功能,其他

接口

RS-232C, 打印機(jī)   (RS-232C), GP-IB (RM3542C-2)

外部輸入輸出

觸發(fā)、保持輸入、比較器輸出、設(shè)置監(jiān)控功能端子

電源

AC100 V?240 V,   50Hz/60Hz, 30 VA max.

體積•重量

260W × 88H × 300D mm, 2.9 kg

附件

電源線×1、EXT.I/O連接器×1、啟動指南×1、使用注意事項(xiàng)×1









日置低電阻測試儀

日置低電阻測試儀


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