LCR測試儀（電橋）的校準(zhǔn)是確保測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確的關(guān)鍵步驟。如果不校準(zhǔn)，測試線纜的寄生參數(shù)（如分布電容、引線電阻）會(huì)疊加在測量結(jié)果中，導(dǎo)致誤差。

一般來說，LCR測試儀的校準(zhǔn)分為清零（歸零）、開路/短路校準(zhǔn)以及負(fù)載校準(zhǔn)。

以下是詳細(xì)的操作步驟和注意事項(xiàng)：

1. 校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作

在開始校準(zhǔn)之前，請(qǐng)務(wù)必做好以下準(zhǔn)備，否則校準(zhǔn)結(jié)果無效：

預(yù)熱：開機(jī)后建議預(yù)熱 15-30分鐘，讓儀器內(nèi)部電路達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)。

環(huán)境：確保環(huán)境溫度在 15℃～35℃ 之間，濕度低于80%，并遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁干擾源。

連接：連接好測試夾具（如開爾文夾具、SMD夾具等），校準(zhǔn)所用的夾具必須與后續(xù)測量所用的夾具一致。

清潔：確保測試端子、夾具觸點(diǎn)清潔，無氧化或污垢。

2. 核心校準(zhǔn)步驟

大多數(shù)現(xiàn)代LCR測試儀（如同惠、日置、是德等品牌）的校準(zhǔn)流程大同小異，主要包含以下三個(gè)階段：

A. 開路校準(zhǔn) (Open Calibration)

目的：消除測試夾具與被測件并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（主要是分布電容）。

操作：

進(jìn)入儀器菜單，選擇“校準(zhǔn)" -> “開路校準(zhǔn)"。

保持測試夾具的兩端完、全懸空（不接觸任何物體）。

按照屏幕提示，確認(rèn)執(zhí)行開路校準(zhǔn)。

等待儀器提示“開路完成"或進(jìn)度條結(jié)束。

B. 短路校準(zhǔn) (Short Calibration)

目的：消除測試夾具與被測件串聯(lián)的殘余阻抗（引線電阻、接觸電阻）。

操作：

選擇“校準(zhǔn)" -> “短路校準(zhǔn)"。

使用低阻抗的金屬短路片（或?qū)Ь€）將測試夾具的高電極和低電極牢固短接。

確保短路連接良好，接觸電阻極小。

執(zhí)行短路校準(zhǔn)，直到儀器提示完成。

C. 負(fù)載校準(zhǔn) (Load Calibration - 可選但推薦)

目的：消除儀器內(nèi)部的剩余導(dǎo)納和剩余阻抗，提高高精度測量的準(zhǔn)確性。

操作：

選擇“校準(zhǔn)" -> “負(fù)載校準(zhǔn)"。

連接一個(gè)已知精確參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)元件（如高精度電阻或電容）。

輸入該標(biāo)準(zhǔn)元件的標(biāo)稱值，儀器會(huì)自動(dòng)計(jì)算偏差并進(jìn)行補(bǔ)償。

3. 不同連接方式的校準(zhǔn)要點(diǎn)

根據(jù)你使用的測試線數(shù)量，校準(zhǔn)的側(cè)重點(diǎn)略有不同：

4端對(duì)法

高頻、高精度測量

需嚴(yán)格進(jìn)行開路、短路、負(fù)載全頻段校準(zhǔn)，注意屏蔽干擾。

4. 什么時(shí)候需要重新校準(zhǔn)？

校準(zhǔn)不是一勞永逸的，以下情況發(fā)生后，必須重新執(zhí)行校準(zhǔn)：

環(huán)境溫度變化：溫差超過5℃-10℃時(shí)，電子元件參數(shù)漂移。

更換夾具或測試線：換了線就等于換了測量系統(tǒng)，寄生參數(shù)完、全不同。

改變測試頻率：如果你在100Hz校準(zhǔn)，卻在1MHz下測量，誤差會(huì)很大（建議在常用頻率點(diǎn)分別校準(zhǔn)）。

長時(shí)間未使用：建議每個(gè)月或每季度進(jìn)行一次全面的內(nèi)部校準(zhǔn)。

5. 常見問題提示

關(guān)于“內(nèi)部校準(zhǔn)"：部分儀器有“內(nèi)部校準(zhǔn)"功能，這是校準(zhǔn)儀器內(nèi)部電路板的，不能替代上述的開路/短路校準(zhǔn)。

接觸檢查：校準(zhǔn)完成后，建議使用一個(gè)已知的標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行驗(yàn)證測量，如果偏差過大，檢查夾具接觸是否良好或重新校準(zhǔn)。

我們的優(yōu)勢：是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、普源、同惠、鼎陽、安柏等。